AEC-Q文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。
E组验证是ELECTRICALVERIFICATIONTESTS电气特性验证测试
本文将重点对E组的第5项ED----ElectricalDistributions电分配项目进行展开讨论。
AECQE组验证4-12项内容
ED电分配这个项目，很多朋友都很陌生，特别是做可靠性实验室的朋友，大多数不知道这个是干什么的，但是如果是生产型企业，做车规产品符合的，那就对这项内容非常的了解和熟悉了。
AECQ测试流程中的ED项目位置
我们先看一下表格内容
ED-ElectricalDistributions-电分配
表格中信息介绍和解读
表格中的信息给出，ED的分类是E5，Notes中包含了H、P、B、D，也就是说要求密封器件、塑封器件、要求BGA器件、破坏性测试；
需求的样品数量是30颗/批次，来自3个批次；
接受标准是Cpk1.67；
测试方法是AECQ-文件和AECQ文件。
附加需求：
供应商和用户必须就被测量的电气参数和接受方法达成一致。电分配要在室内、热、冷温度下进行测试。
在深入了解Q-和Q文件之前，先简单解读一些，电分配并不是独立的测试项目，在附件需求中，其他项目都是写在该项目前、后进行高温、室温测试等内容，但是电分配明确说了，要在三温状态下进行测试，也就是电分配本身就是测试的一部分，就是和测试同步进行的。这里说的测试是TEST，E1项目，也就是ATE回测。
那么Cpk是什么？
Cpk(ProcessCapabilityIndex)的定义：制程能力指数；
Cpk的意义：是制程水平的量化反映，用来表达制程的水平。
制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程
合格率的高低。
Cpk计算公式：CPk=Cp×[1-Abs(Ca）其中：
Ca(CapabilityofAccuracy)：制程准确度;
Cp(CapabilityofPrecision):制程精密度;
其中
USL(UpperSpecificationLimit)规格上限;
LSL(LowSpecificationLimit)规格下限;
C(CenterLine）规格中心;
X=(X1+X2+……+Xn)/n平均值(n为样本数)
T=USL-LSL规格公差；
δ（sigma）为数据的标准差
Cpk的算法介绍完毕了，让我们看一下两个参考文件。
AECQ-REV-BELECTRICALDISTRIBUTIONSASSESSMENT
1适用范围
本规范描述了评估电气参数表征、分布(例如，对交流、直流和时序等)和集成电路的参数偏差的测试方法，这个测试要求已经确定了供应商规格书的参数规格限制。对于新产品，这些数据表的限值根据AEC-Q的定义是通过应用AEC-Q流程来确定的。测试结果用于确定满足器件规格的性能要求的能力。测试结果还可用于设置器件的测试限制(例如，LTL和UTL)。
2目的
本试验方法的目的是定义获得集成电路上电参数的表征、电分布和参数位移数据的方法。该方法的目的是评估零件在正常工艺变化、时间和/或预期应用环境(例如，工作温度范围、电压等)下在规范参数范围内的功能。
3名词定义
3.1Cpk和Ppk
规格限制与能力(Cpk)或潜力(Ppk)之间关系的度量。参考:PPAP手册第四版，见SPC手册。（为什么上面说车规级产品的生产企业对电分配内容很是了解，因为PPAP和SPC正是来自的五大工具）
3.2电气特性
确定零件的功能稳健性（Robustness）(例如，一个参数对另一个参数的影响等)。这些参数通常涉及器件在电压、频率和温度等极端操作条件下的电气参数测量，但也可能包括各种加载条件和根据供应商规格书或客户规范的其他输入AC和DC参数。
注:这与AEC-Q中描述的工艺表征不同，在AEC-Q中，材料被故意制造在工艺角(极限)值，并测试以确定和建立制造过程的“最佳点”。
3.3电分配(电气分布)
在给定的温度、频率和电压下，从正常批量产品中的随机提取的样品来进行电气参数的统计分布，以确定器件满足客户规范或供应商规格书中参数要求的能力。
3.4关键重要/关键电气参数
这是一种可测量的电气参数，如果它违反了该参数的规格限制，它可以合理地预期会影响部件的质量和/或可靠性。此外，也可以是与用户一起指定的可测量的电气参数，在用户预期应用的功能中是重要的参数。
3.5测试下限(LTL)
一种比规格书下限(LSL)要求更严格的测试极限，用它来覆盖测试误差。
3.6参数漂移
这是一种电参数因时间和环境条件而改变其初始值的现象。变化的形式可能是偏离产品的原始值，或者偏离一组器件的统计分布。当在单个产品基础上研究变化时，这种研究称为个体的参数漂移(需要对单个单元进行序列化)。
例如当用户指定一个或多个关键的重要/关键电参数作为其预期应用的重要项目，可能会要求个体漂移统计。当研究一组器件上的变化时，这种研究称为分布的参数漂移(不需要对单个单元进行序列化)。变化的原因可能是时间和/或环境条件(在实际应用中或通过加速压力测试模拟)。
3.7测试上限(UTL)
一种比规格书上限(USL)要求更严格的测试极限，用它来覆盖测试误差。
4.过程
4.1需求
Q要求每个产品认证都需要电分配验证。不允许使用通用数据。电气特性和参数漂移的性能不是必需的，但应根据供应商自己的评估或根据需要由用户和供应商之间的相互协议确定。
4.2参数
供应商不需要对规格书中详细列出的每个电气参数执行电气分布。所测试的参数应是那些其变化可能影响输出质量和/或可靠性的参数，或那些对产品成功运行至关重要的参数。这个参数列表通常称为关键重要/关键电气参数。该参数列表可能由供应商基于对技术、过程、设计和用户应用范围的知识建立，或者可以由用户和供应商之间协商，通常通过用户产品规范定义一组对预期的用户应用影响很大的参数。关键重要/关键电气参数的样本列表可在AEC-Q部件平均测试规范中找到。如果不存在参数列表，则默认列表是供应商规格书中定义的可测量电气参数集。
4.3程序
4.3.1样本大小
从给定的样品中随机选择一组部件，其样本大小在AECQ中指定。
样品必须来自于生产过程，必须在生产设备上制造，所有的加工过程都作为产品未来交付给用户使用的相同过程。如果要确定个体的参数漂移，则将每个部分序列化。这将使确定绝对部分特定漂移以及样品(分布)漂移成为可能。如果统计显著性是对给定测量或参数的重要